跌落測(cè)試電子產(chǎn)品在出廠之前常做的可靠性試驗(yàn)之一，跌落測(cè)試包括包裝跌落測(cè)試和裸機(jī)跌落測(cè)試，前者測(cè)試產(chǎn)品包裝情況下在模擬不同的棱、角、面與不同的高度跌落于地面時(shí)的情況，從而了解產(chǎn)品受損情況及評(píng)估產(chǎn)品包裝組件在跌落時(shí)所能承受的墮落高度及耐沖擊強(qiáng)度，從而根據(jù)產(chǎn)品實(shí)際情況及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)范圍內(nèi)進(jìn)行改進(jìn)、完善包裝設(shè)計(jì)。后者模擬產(chǎn)品在搬運(yùn)期間或者使用時(shí)候可能受到的自由跌落，考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。

跌落測(cè)試方法：

跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落機(jī)率做為參考標(biāo)準(zhǔn)，落下表面應(yīng)該是混凝土或鋼制成的平滑、堅(jiān)硬的剛性表面(如有特殊要求應(yīng)以產(chǎn)品規(guī)格或客戶(hù)測(cè)試規(guī)范來(lái)決定)。

對(duì)于不同國(guó)際規(guī)范即使產(chǎn)品在相同重量下但掉落高度也不相同，對(duì)于手持型產(chǎn)品(如手機(jī)，MP3等)大多數(shù)掉落高度大都介于100cm~150cm不等，IEC對(duì)于≦2kg之手持型產(chǎn)品建議應(yīng)滿(mǎn)足100cm之掉落高度不可損壞，MIL則建議掉落高度為122cm，Intel對(duì)手持型產(chǎn)品(如手機(jī))則建議落下高度為150cm。試驗(yàn)的嚴(yán)苛程度取決于跌落高度、跌落次數(shù)、跌落方向。

檢測(cè)提供專(zhuān)業(yè)溫濕度測(cè)試、振動(dòng)測(cè)試、沖擊測(cè)試、碰撞試驗(yàn)、跌落測(cè)試、防水防塵測(cè)試、鹽霧測(cè)試等可靠性測(cè)試，同時(shí)檢測(cè)是一家綜合性、專(zhuān)業(yè)性、全國(guó)性的第三方檢測(cè)、檢驗(yàn)與驗(yàn)證機(jī)構(gòu)，為企業(yè)制造商提供全方位的檢測(cè)和認(rèn)證服務(wù)。

檢測(cè)流程步驟

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