靶材檢測(cè)報(bào)告如何辦理？檢測(cè)費(fèi)用與價(jià)格是多少錢呢？檢測(cè)時(shí)間需要多久呢？下面小編為您解答。百檢也可依據(jù)相應(yīng)靶材檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計(jì)檢測(cè)方案，以滿足您多樣化的需求。做檢測(cè)，上百檢！我們只做真實(shí)檢測(cè)。

檢測(cè)周期/方式/費(fèi)用

周期：一般3-15個(gè)工作日，可加急。

方式：可寄樣檢測(cè)、目測(cè)檢測(cè)、見證試驗(yàn)、現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)等。

費(fèi)用：具體根據(jù)檢測(cè)樣品數(shù)量和項(xiàng)目而定。詳情請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。

檢測(cè)項(xiàng)目

機(jī)械性能、純度、晶粒度、密度、組織均勻性、疲勞試驗(yàn)等。

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

XB/T 515-2020 鈧鋁合金靶材

YS/T 1158.1-2016 銅銦鎵硒靶材化學(xué)分析方法 第1部分：鎵量和銦量的測(cè)定 電感耦合等離子體原子發(fā)射光譜法

YS/T 1156-2016 銅銦鎵硒靶材

YS/T 937-2013 鎳鉑靶材

YS/T 936-2013 集成電路器件用鎳釩合金靶材

YS/T 935-2013 電子薄膜用高純金屬濺射靶材純度等級(jí)及雜質(zhì)含量分析和報(bào)告標(biāo)準(zhǔn)指南

YS/T 893-2013 電子薄膜用高純鈦濺射靶材

YS/T 837-2012 濺射靶材-背板結(jié)合質(zhì)量超聲波檢驗(yàn)方法

YS/T 826-2012 五氧化二鈮靶材

YS/T 819-2012 電子薄膜用高純銅濺射靶材

YS/T 719-2009 平面磁控濺射靶材 光學(xué)薄膜用硅靶

YS/T 718-2009 平面磁控濺射靶材 光學(xué)薄膜用鈮靶

YS/T 1235-2018 鉬鈦合金(MoTi)靶材

YS/T 1234-2018 鉻鉬合金(CrMo)靶材

T/NXCL 004-2021 旋轉(zhuǎn)硅靶材

T/NXCL 003-2021 平面硅鍺靶材

T/CSRE 19001-2020 金屬鐿靶材

GB/T 23611-2009 金靶材

T/ZZB 0639-2018 氧化鋅鋁磁控濺射靶材

DB45/T 2109-2019 銅銦鎵硒太陽能光伏電池靶材中硒含量的測(cè)定 容量法

檢測(cè)范圍

鈦靶材、ITO靶材、金屬靶材、鍍膜靶材、合金靶材、鋁靶材、旋轉(zhuǎn)靶材、銅靶材、陶瓷靶材、半導(dǎo)體靶材等。

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檢測(cè)流程步驟

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