激光、光學(xué)元件檢測(cè)報(bào)告如何辦理？檢測(cè)費(fèi)用與價(jià)格是多少錢呢？檢測(cè)時(shí)間需要多久呢？下面小編為您解答。百檢也可依據(jù)相應(yīng)激光、光學(xué)元件檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)或者根據(jù)您的需求設(shè)計(jì)檢測(cè)方案。做檢測(cè)，上百檢！我們只做真實(shí)檢測(cè)。
檢測(cè)周期
一般3-15個(gè)工作日，可加急。
檢測(cè)方式
可寄樣檢測(cè)、目測(cè)檢測(cè)、見證試驗(yàn)、現(xiàn)場(chǎng)檢測(cè)等。
檢測(cè)費(fèi)用
具體根據(jù)檢測(cè)樣品數(shù)量和項(xiàng)目而定。詳情請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)及項(xiàng)目一覽表（參考）
| 序號(hào) | 檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn) | 檢測(cè)對(duì)象 | 檢測(cè)項(xiàng)目 |
|---|---|---|---|
| 1 | 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第2部分:低溫、高溫、濕熱 GB/T 12085.2-2010 4.2.2 | 激光、光學(xué)元件 | 低溫 |
| 2 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1:2007 5.2 | 激光、光學(xué)元件 | 低溫 |
| 3 | 光學(xué)和光子學(xué)—平面光學(xué)元件的透射率和反射率測(cè)量 ISO 15368:2021 8.1.3 | 激光、光學(xué)元件 | 反射率 |
| 4 | 激光棒波前畸變的測(cè)量方法 GB/T 11297.1-2017 | 激光、光學(xué)元件 | 波前畸變 |
| 5 | 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第2部分:低溫、高溫、濕熱 GB/T 12085.2-2010 4.2.4 | 激光、光學(xué)元件 | 濕熱 |
| 6 | 環(huán)境試驗(yàn)第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Cab：恒定濕熱試驗(yàn) GB/T 2423.3-2016/IEC 60068-2-78:2012 | 激光、光學(xué)元件 | 濕熱 |
| 7 | 激光光學(xué)元件測(cè)試方法 GJB 1487-92 101 | 激光、光學(xué)元件 | 透過(guò)率 |
| 8 | 光學(xué)零件的面形偏差 GB/T 2831-2009 7.3 | 激光、光學(xué)元件 | 面形偏差 |
| 9 | 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗(yàn)方法 第2部分:低溫、高溫、濕熱 GB/T 12085.2-2010 4.2.3 | 激光、光學(xué)元件 | 高溫 |
| 10 | 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 GB/T 2423.2-2008/IEC 60068-2-2:2007 5.2 | 激光、光學(xué)元件 | 高溫 |
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檢測(cè)流程步驟
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