硅片電阻率檢測(cè)什么單位可以做?檢測(cè)項(xiàng)目及標(biāo)準(zhǔn)有哪些?檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室可依據(jù)GB/T 29055-2019 太陽(yáng)能電池用多晶硅片等相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)制定試驗(yàn)方案。對(duì)硅片檢測(cè)的電阻率等項(xiàng)目進(jìn)行檢測(cè)分析。并出具嚴(yán)謹(jǐn)公正的硅片電阻率檢測(cè)報(bào)告。

檢測(cè)項(xiàng)目

表面薄膜厚度、密度測(cè)試、翹曲度測(cè)試、表面粗糙度、電阻率、電阻、徑向電阻率變化等等。

適用范圍

單晶硅片、多晶硅片、半導(dǎo)體材料用硅片等。

相關(guān)檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

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檢測(cè)流程步驟

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