- N +

碳膜電阻檢測

檢測報告圖片樣例

檢測樣品

金剛石膜、石墨烯膜、碳納米管膜、活性炭膜、等離子增強化學氣相沉積、生長的非晶碳膜、蒸發(fā)碳膜等等。

檢測項目

光學性能:包括可見光透過率、紅外線透過率、紫外線透過率和表面反射率等。

耐候性能:包括耐暴曬、抗老化、耐高溫等。

機械性能:包括耐刮擦、耐磨損、拉伸強度和撕裂強度等。

化學穩(wěn)定性:包括對酸、堿、鹽水等的耐受性。

粘附力:包括與基材的粘附力和膜層之間的粘附力。

導電性:包括電阻率和導電系數等。

防紫外線性能:包括對紫外線的吸收和反射等。

檢測周期

一般7-10個工作日出具報告,可加急。

參考標準規(guī)范

KS C 6413-1974(1997) 孤立狀碳膜固定電阻器

KS C 6417-1985(2000) 碳膜電阻器

KS C 5117-2003 絕緣碳膜電阻器

KS C 6409-2002 通用碳膜可調電位器

JUS N.R3.101-1981 碳膜電阻器.固定式、低功率、標準穩(wěn)定性,氣候特性55/155/56

SJ/T 10617-2017 電子元器件詳細規(guī)范 低功率非線繞固定電阻器 RT13型碳膜固定電阻器 評定水平E

GB/T 12635-1990 碳膜電阻器用陶瓷基體

JIS C5212-1995 電子設備用圓柱體碳膜片層固定電阻器(形狀27,特性D及G,等級C)

JIS C6407-1992 用于電氣設備的絕緣固定碳膜電阻器

JB/T 5632-1991 碳膜電阻滲碳爐 能耗分等

YS/T 613-2006 碳膜電位器用電阻漿料

KS C 5117-2003(2018) 孤立狀碳膜固定電阻器

GB 12635-1990 碳膜電阻器用陶瓷基體

SJ/T 11171-2016 單、雙面碳膜印制板分規(guī)范

KS C 6370-1995(2000) 電子設備碳膜固定電阻器使用(特征D和G)

檢測流程步驟

檢測流程步驟

溫馨提示:以上內容僅供參考使用,更多檢測需求請咨詢客服。

返回列表
上一篇:漆包線絕緣測試
下一篇:高頻絕緣陶瓷檢測