檢測樣品
金剛石膜、石墨烯膜、碳納米管膜、活性炭膜、等離子增強化學氣相沉積、生長的非晶碳膜、蒸發(fā)碳膜等等。檢測項目
光學性能:包括可見光透過率、紅外線透過率、紫外線透過率和表面反射率等。
耐候性能:包括耐暴曬、抗老化、耐高溫等。
機械性能:包括耐刮擦、耐磨損、拉伸強度和撕裂強度等。
化學穩(wěn)定性:包括對酸、堿、鹽水等的耐受性。
粘附力:包括與基材的粘附力和膜層之間的粘附力。
導電性:包括電阻率和導電系數等。
防紫外線性能:包括對紫外線的吸收和反射等。
檢測周期
一般7-10個工作日出具報告,可加急。參考標準規(guī)范
KS C 6413-1974(1997) 孤立狀碳膜固定電阻器
KS C 6417-1985(2000) 碳膜電阻器
KS C 5117-2003 絕緣碳膜電阻器
KS C 6409-2002 通用碳膜可調電位器
JUS N.R3.101-1981 碳膜電阻器.固定式、低功率、標準穩(wěn)定性,氣候特性55/155/56
SJ/T 10617-2017 電子元器件詳細規(guī)范 低功率非線繞固定電阻器 RT13型碳膜固定電阻器 評定水平E
GB/T 12635-1990 碳膜電阻器用陶瓷基體
JIS C5212-1995 電子設備用圓柱體碳膜片層固定電阻器(形狀27,特性D及G,等級C)
JIS C6407-1992 用于電氣設備的絕緣固定碳膜電阻器
JB/T 5632-1991 碳膜電阻滲碳爐 能耗分等
YS/T 613-2006 碳膜電位器用電阻漿料
KS C 5117-2003(2018) 孤立狀碳膜固定電阻器
GB 12635-1990 碳膜電阻器用陶瓷基體
SJ/T 11171-2016 單、雙面碳膜印制板分規(guī)范
KS C 6370-1995(2000) 電子設備碳膜固定電阻器使用(特征D和G)
檢測流程步驟
溫馨提示:以上內容僅供參考使用,更多檢測需求請咨詢客服。