GB/T 38888-2020.Performance and calibration methods for data acquisition software.
1范圍
GB/T 38888規(guī)定了數(shù)據(jù)采集軟件的性能特征及校準(zhǔn)方法。
GB/T 38888涵蓋:
一DAQ制造商提供描述DAQ的模數(shù)轉(zhuǎn)換模塊(ADM)性能的較小規(guī)范;
一用來(lái)驗(yàn)證較小規(guī)范要求的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)策略;
一存儲(chǔ)在 DAQ.上的ADM所需的較低校準(zhǔn)信息;
一DAQ的ADM的外部校準(zhǔn)和自校準(zhǔn)的較低校準(zhǔn)軟件要求。
GB/T 38888適用于低頻信號(hào)轉(zhuǎn)換的DAQ。
示例:應(yīng)用在設(shè)備控制、振動(dòng)測(cè)量、振動(dòng)診斷.聲學(xué)、超聲波測(cè)量、溫度測(cè)量、壓力測(cè)量、電力電子測(cè)量等面的低頻信號(hào)轉(zhuǎn)換。
2規(guī)范性引用文件
下列文件對(duì)于本文件的應(yīng)用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,僅注日期的版本適用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其較新版本(包括所有的修改單)適用于本文件。
GB/T 27025-2008檢測(cè) 和校準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室能力的通用要求(ISO/IEC 17025 :2005,IDT)
ISO/IEC GUIDE 98-3:2008測(cè)量不確定度 第 3部分:測(cè)量不確定度表示指南(Uncertainty of measurement-Part 3:Guide to the expression of uncertainty in measurement)
IEC 60748-4:1997半導(dǎo)體器件集成電路第4部分:接口集成電路( Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 4:Interface integrated circuits)
IEC 60748-4-3:2006半導(dǎo)體器件集成電路第 4-3部分:接口集成電路模擬/數(shù)字轉(zhuǎn) 換器(ADC)的動(dòng)力學(xué)標(biāo)準(zhǔn)( Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 4-3 : Interface integrated circuits-Dynamic criteria for analogue- digital converters( ADC))

檢測(cè)流程步驟

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