GB/T15877-2013半導體集成電路蝕刻型雙列封裝引線框架規(guī)范

標準號：GB/T 15877-2013

標準名稱：半導體集成電路蝕刻型雙列封裝引線框架規(guī)范

標準類型：國家標準

標準性質：推薦性

標準狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2013-12-31

實施日期：2014-08-15

替代以下標準：替代GB/T 15877-1995

發(fā)布單位：國家質量監(jiān)督檢驗檢疫.

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。

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