SJ 20060-1992《半導體分立器件 ３ＤＧ１２０型ＮＰＮ硅高頻小功率晶體管詳細規(guī)范》基本信息

標準號：

SJ 20060-1992

中文名稱：

《半導體分立器件 ３ＤＧ１２０型ＮＰＮ硅高頻小功率晶體管詳細規(guī)范》

發(fā)布日期：

1992-11-19

實施日期：

1993-05-01

發(fā)布部門：

中國電子工業(yè)總公司

提出單位：

中國電子工業(yè)總公司科技質(zhì)量局

歸口單位：

中國電子技術(shù)標準化研究所

起草單位：

中國電子技術(shù)標準化研究所和石家莊無線電二廠

起草人：

王長福、王承琳、謝佩蘭

中國標準分類號：

A01技術(shù)管理

SJ 20060-1992《半導體分立器件 ３ＤＧ１２０型ＮＰＮ硅高頻小功率晶體管詳細規(guī)范》介紹

SJ 20060-1992《半導體分立器件 3DG120型NPN硅高頻小功率晶體管詳細規(guī)范》是中國電子工業(yè)總公司于1992年11月19日發(fā)布的一項標準，自1993年5月1日起實施。

一、技術(shù)要求

1、晶體管的型號、外形和尺寸應(yīng)符合標準規(guī)定，且應(yīng)有清晰的型號標識。

2、晶體管的電性能參數(shù)應(yīng)滿足標準規(guī)定的要求，包括集電極-基極電壓、集電極電流、基極電流、電流放大系數(shù)等。

3、晶體管的機械性能應(yīng)滿足標準規(guī)定的要求，包括引線強度、引線長度、引腳間距等。

4、晶體管的熱性能應(yīng)滿足標準規(guī)定的要求，包括結(jié)溫、散熱能力等。

二、測試方法

1、電性能參數(shù)測試：采用相應(yīng)的測試儀器和設(shè)備，按照標準規(guī)定的測試條件和方法進行測試。

2、機械性能測試：采用相應(yīng)的測試儀器和設(shè)備，按照標準規(guī)定的測試條件和方法進行測試。

3、熱性能測試：采用相應(yīng)的測試儀器和設(shè)備，按照標準規(guī)定的測試條件和方法進行測試。

三、檢驗規(guī)則

1、檢驗分類：包括型式檢驗和出廠檢驗。

2、型式檢驗：在產(chǎn)品研制、改進或工藝變更后，應(yīng)進行型式檢驗，以驗證產(chǎn)品是否符合標準要求。

3、出廠檢驗：每批產(chǎn)品出廠前應(yīng)進行出廠檢驗，以確保產(chǎn)品質(zhì)量。

四、標志、包裝、運輸和儲存

1、標志：產(chǎn)品應(yīng)有清晰的型號標識、生產(chǎn)批號、生產(chǎn)日期等信息。

2、包裝：產(chǎn)品應(yīng)采用適當?shù)陌b材料和包裝方式，以保護產(chǎn)品在運輸和儲存過程中不受損壞。

3、運輸：產(chǎn)品在運輸過程中應(yīng)避免受到劇烈震動、高溫、潮濕等不良影響。

4、儲存：產(chǎn)品應(yīng)儲存在干燥、通風、無腐蝕性氣體的環(huán)境中，避免受潮、受熱、受壓等不良影響。

檢測流程步驟

溫馨提示：以上內(nèi)容僅供參考使用，更多檢測需求請咨詢客服。