檢測(cè)報(bào)告圖片

檢測(cè)項(xiàng)目：

低階阻抗、振動(dòng)試驗(yàn)、機(jī)械沖擊試驗(yàn)、濕熱試驗(yàn)、熱沖擊試驗(yàn)、高溫試驗(yàn)、串?dāng)_、回波損耗、插入損耗、時(shí)滯、特性阻抗、眼圖、低電流接觸阻抗、整體插拔力、端子保持力、耐久性、交變濕熱、接觸電阻、機(jī)械沖擊、正弦振動(dòng)、溫度沖擊、絕緣電阻、耐電壓、高溫、低溫、機(jī)械振動(dòng)、溫度變化試驗(yàn)、灼熱絲試驗(yàn)、試驗(yàn)13b 插入和拔出力、試驗(yàn)16d 抗張強(qiáng)度（壓接連接）、試驗(yàn)2a 接觸電阻-毫伏法、試驗(yàn)3a 絕緣電阻、試驗(yàn)4a 耐電壓、試驗(yàn)5a 溫升、低溫試驗(yàn)、低電平接觸電阻測(cè)試、可焊性測(cè)試、溫升測(cè)試、溫度沖擊試驗(yàn)、溫度壽命試驗(yàn)、濕度試驗(yàn)、鹽霧試驗(yàn)、端子與端子嚙合和分離測(cè)試、端子保持力測(cè)試、端子正壓力測(cè)試、絕緣電阻測(cè)試、耐焊接熱測(cè)試、耐電壓測(cè)試、連接器與插座插/拔力測(cè)試、低溫/低氣壓、低電阻、恒定濕熱、振動(dòng)、溫度壽命、熱沖擊、鹽霧、低接觸電阻、正向力、電纜撓曲、端子插入及分離力、耐插拔、溫升試驗(yàn)、潮濕試驗(yàn)、鹽水噴霧試驗(yàn)、加速度、流動(dòng)混合氣體腐蝕試驗(yàn)、耐溶劑、跌落沖擊試驗(yàn)、恒溫恒濕、插拔力、絕緣阻抗、外觀尺寸、端子焊錫性、接觸阻抗、介質(zhì)耐電壓、耐濕、冷熱沖擊、溫濕度振動(dòng)綜合試驗(yàn)、溫濕度沖擊綜合試驗(yàn)、隨機(jī)振動(dòng)、鍍層厚度、助力機(jī)構(gòu)機(jī)械強(qiáng)度、壓力/真空泄漏、固定結(jié)構(gòu)機(jī)械強(qiáng)度、密封件的保持力（未配合的連接器）、密封件的保持力（配合的連接器）、干回路測(cè)試、振動(dòng)/機(jī)械沖擊、插入孔損傷敏感性、插孔PIN保持力、較大測(cè)試電流能力、極化功能有效性、浸泡、溫度/濕度循環(huán)、電壓降、電流循環(huán)、電路連續(xù)性監(jiān)控、目視檢查

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：

1、EIA-364-09D-2018 電子連接器、接觸器耐久性測(cè)試法 4.0

2、EIA-364-107：2019 電子連接器、插座、線束或互聯(lián)系統(tǒng)的眼圖和抖動(dòng)測(cè)試程序

3、EIA-364-01：2000 電子連接器的加速度測(cè)試程序

4、EIA-364-32G:2014 電子連接器的溫度沖擊測(cè)試方法

5、EIA- 364-20F:2019 電子連接器、插座和同軸連接器的耐電壓測(cè)試程序 EIA-364-20F:2019

6、GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化 GB/T 2423.22-2012

7、EIA-364-29C-2006 電子連接器端子保持力測(cè)試方法 4.0

8、GB/T 5095.3-1997 電子設(shè)備用機(jī)電元件基本試驗(yàn)規(guī)程及測(cè)量方法 第3部分：載流容量試驗(yàn) GB/T 5095.3-1997

9、EIA-364-21E-2014 電子連接器、插座和同軸接觸器絕緣阻抗測(cè)試方法 4.0

10、ANSI/EIA-364- 26C-2014 電氣連接器、端子及插座的鹽霧試驗(yàn)程序

11、ANSI/EIA -364-37C-2009(R2015) 電子連接器的端子插入及分離力測(cè)試程序

12、EIA-364-21E:2014 電子連接器的絕緣電阻測(cè)試方法

13、ANSI/EIA-364-27C-2011(R2017) 電氣連接器及插座的機(jī)械沖擊（特定脈沖）試驗(yàn)程序

14、EIA-364-31D-2014 電子連接器、插座濕度試驗(yàn)方法 5.0

15、EIA-364-27:2011 電子連接器和插座的機(jī)械振動(dòng)（指定脈沖）測(cè)試方法

16、EIA 364-21E-2014 TP-21E電氣連接器、插座和同軸觸點(diǎn)絕緣電阻測(cè)試程序

17、GB/T 2423.5-2019 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)Ea和導(dǎo)則:沖擊 GB/T 2423.5-2019

18、EIA- 364-17C-2011 電子連接器、插座有無(wú)負(fù)載情況下的溫度壽命試驗(yàn)方法 EIA-364-17C-2011

19、ANSI/EIA-364-28F-2011(R2017) 電氣連接器及插座的振動(dòng)試驗(yàn)程序

20、EIA- 364-26C :2014 電子連接器、端子及插座的鹽霧測(cè)試方法 EIA-364-26C :2014

檢測(cè)報(bào)告用途

商超入駐、電商上架、內(nèi)部品控、招投標(biāo)、高?？蒲械取?/p>

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般檢測(cè)報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間。檢測(cè)報(bào)告上不會(huì)標(biāo)注有效期。常規(guī)來(lái)說(shuō)只要測(cè)試沒(méi)更新，測(cè)試不變檢測(cè)報(bào)告一直有效。如果是用于過(guò)電商平臺(tái)，一般他們只認(rèn)可一年內(nèi)的。所以還要看平臺(tái)或買家的要求。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

因測(cè)試項(xiàng)目及實(shí)驗(yàn)復(fù)雜程度不同，具體請(qǐng)聯(lián)系客服確定后進(jìn)行報(bào)價(jià)。

檢測(cè)報(bào)告有效期

一般電子連接器檢測(cè)檢驗(yàn)認(rèn)證測(cè)試報(bào)告上會(huì)標(biāo)注實(shí)驗(yàn)室收到樣品的時(shí)間、出具報(bào)告的時(shí)間，不會(huì)標(biāo)注有效期。

檢測(cè)費(fèi)用價(jià)格

需要根據(jù)檢測(cè)項(xiàng)目、樣品數(shù)量及檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)而定，請(qǐng)聯(lián)系我們確定后報(bào)價(jià)。

檢測(cè)流程步驟

檢測(cè)機(jī)構(gòu)平臺(tái)

百檢匯集眾多CNAS、CMA、CAL等資質(zhì)的檢測(cè)機(jī)構(gòu)遍布全國(guó)，檢測(cè)領(lǐng)域全行業(yè)覆蓋，為您提供電子連接器檢測(cè)檢驗(yàn)認(rèn)證測(cè)試服務(wù)。具體請(qǐng)咨詢?cè)诰€客服。