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標準簡介：本標準規(guī)定了使用適當的參考物質對掃描電鏡（SEM）圖像的放大倍率進行校準的方法。本標準適用于對由校準參考物質上間距大小的可用范圍決定的放大倍率進行校準。本標準不適用于專用測長型掃描電鏡。
標準號：GB/T 27788-2020
標準名稱：微束分析 掃描電鏡 圖像放大倍率校準導則
英文名稱：Microbeam analysis—Scanning electron microscopy—Guidelines for calibrating image magnification
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
標準狀態(tài)：現行
發(fā)布日期：2020-06-02
實施日期：2021-04-01
中國標準分類號（CCS）：儀器、儀表>>光學儀器>>N32放大鏡與顯微鏡
國際標準分類號（ICS）：成像技術>>37.020光學設備
替代以下標準：替代GB/T 27788-2011
起草單位：中國地質科學院礦產資源研究所、中國科學院上海硅酸鹽研究所、中國人民解放*海**醫(yī)大學
歸口單位：全國微束分析標準化技術委員會(SAC/TC 38)
發(fā)布單位：國家市場監(jiān)督管理總局.
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