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標準簡介：本標準規(guī)定了半導體集成電路電壓調整器電特性測試方法的基本原理。本標準適用于半導體集成電路電壓調整器電特性的測試，不適用于雙端（單端口）器件。
標準號：GB/T 4377-1996
標準名稱：半導體集成電路 電壓調整器測試方法的基本原理
英文名稱：Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods of voltage regulator
標準類型：國家標準
標準性質：推薦性
標準狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1996-07-09
實施日期：1997-01-01
中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術>>微電路>>L56半導體集成電路
國際標準分類號（ICS）：電子學>>31.200集成電路、微電子學
替代以下標準：GB 4377-1984;被GB/T 4377-2018代替
起草單位：全國集成電路標委會模擬分會
歸口單位：全國半導體器件標準化技術委員會
發(fā)布單位：國家技術監(jiān)督局
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