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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)適用于測(cè)定電子器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料在頻率1MHz、溫度從室溫至500℃條件下的介質(zhì)損耗角正切值。
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB 5594.4-1985
標(biāo)準(zhǔn)名稱：電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測(cè)試方法 介質(zhì)損耗角正切值的測(cè)試方法
英文名稱：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for dielectric loss angle tangent value
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：強(qiáng)制性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：1985-11-27
實(shí)施日期：1986-12-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：>>>>L32
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：31.030
替代以下標(biāo)準(zhǔn)：被GB/T 5594.4-2015代替
起草單位：天津大學(xué)
歸口單位：中華人民共和國(guó)電子工業(yè)部
發(fā)布單位：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)局
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