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GB/T5252-2020鍺單晶位錯密度的測試方法

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標準簡介:本標準規(guī)定了鍺單晶位錯密度的測試方法。 本標準適用于、和面鍺單晶位錯密度的測試,測試范圍為0 cm-2~100 000 cm-2。

標準號:GB/T 5252-2020

標準名稱:鍺單晶位錯密度的測試方法

英文名稱:Test method for dislocation density of monocrystal germanium

標準類型:國家標準

標準性質:推薦性

標準狀態(tài):現(xiàn)行

發(fā)布日期:2020-06-02

實施日期:2021-04-01

中國標準分類號(CCS):冶金>>金屬理化性能試驗方法>>H21金屬物理性能試驗方法

國際標準分類號(ICS):冶金>>77.040金屬材料試驗

替代以下標準:替代GB/T 5252-2006

起草單位:有研光電新材料有限責任公司、北京國晶輝紅外光學科技有限公司、國合通用測試評價認證股份公司、云南臨滄鑫圓鍺業(yè)股份有限公司、中國電子科技集團公司第四十六研究所、廣東先導稀材股份有限公司、中鍺科技有限公司、義烏力邁新材料有限公司

歸口單位:全國半導體設備和材料標準化技術委員會(SAC/TC 203)、全

發(fā)布單位:國家市場監(jiān)督管理總局.

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