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檢測(cè)執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)信息一覽：
標(biāo)準(zhǔn)號(hào)：GB/T 24468-2009
標(biāo)準(zhǔn)名稱：半導(dǎo)體設(shè)備可靠性、可用性和維修性（RAM）的定義和測(cè)量規(guī)范
英文名稱：Specification for definition and measurement of semiconductor equipment reliability availability and maintainability(RAM)
標(biāo)準(zhǔn)類型：國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
標(biāo)準(zhǔn)性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準(zhǔn)狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2009-10-15
實(shí)施日期：2009-12-01
中國(guó)標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>電子測(cè)量與儀器>>L85電子測(cè)量與儀器綜合
國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)分類號(hào)（ICS）：計(jì)量學(xué)和測(cè)量、物理現(xiàn)象>>長(zhǎng)度和角度測(cè)量>>17.040.30測(cè)量?jī)x器儀表
起草單位：中國(guó)電子技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)化研究所
歸口單位：469-203 全國(guó)半導(dǎo)體材料和設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)化技術(shù)委員會(huì)
發(fā)布單位：國(guó)家質(zhì)量監(jiān)督檢驗(yàn)檢疫.
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