檢測報告圖片模板：
檢測執(zhí)行標(biāo)準信息一覽：
標(biāo)準簡介：本標(biāo)準規(guī)定了在微波頻率下利用雙諧振器法測試超導(dǎo)體表面電阻的方法。測試目標(biāo)是在諧振頻率下Rs隨溫度的變化。本標(biāo)準適用于表面電阻的測試范圍如下：———頻率：８GHz＜f＜３０GHz———測試分辨率：0.01mΩ（f＝10GHz）
標(biāo)準號：GB/T 22586-2008
標(biāo)準名稱：高溫超導(dǎo)薄膜微波表面電阻測試
英文名稱：Measurements of microwave surface resistance of resistance of HTSC thin film
標(biāo)準類型：國家標(biāo)準
標(biāo)準性質(zhì)：推薦性
標(biāo)準狀態(tài)：作廢
發(fā)布日期：2008-12-15
實施日期：2009-05-01
中國標(biāo)準分類號（CCS）：冶金>>金屬理化性能試驗方法>>H21金屬物理性能試驗方法
國際標(biāo)準分類號（ICS）：冶金>>金屬材料試驗>>77.040.99金屬材料的其他試驗方法
替代以下標(biāo)準：被GB/T 22586-2018代替
起草單位：電子科技大學(xué)、清華大學(xué)、南京大學(xué)等
歸口單位：全國超導(dǎo)標(biāo)準化技術(shù)委員會
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
免責(zé)聲明：(更多標(biāo)準請先聯(lián)系客服查詢！)
1.本站標(biāo)準庫為非營利性質(zhì)，僅供各行人士相互交流、學(xué)習(xí)使用，使用標(biāo)準請以正式出版的版本為準。
2.全部標(biāo)準資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，不保證文件的準確性和完整性，如因使用文件造成損失，本站不承擔(dān)任何責(zé)任。
3.全部標(biāo)準資料均來源于網(wǎng)絡(luò)，本站不承擔(dān)任何技術(shù)及版權(quán)問題，如有相關(guān)內(nèi)容侵權(quán)，請聯(lián)系我們刪除。
