標準簡介：本標準規(guī)定了硅單晶的牌號及分類、要求、檢驗方法、檢驗規(guī)則、標志、包裝、運輸、貯存、質(zhì)量證明書和訂貨單(或合同)內(nèi)容等。本標準適用于直拉法、懸浮區(qū)熔法(包括中子嬗變摻雜和氣相摻雜)制備的直徑不大于200mm 的硅單晶。產(chǎn)品主要用于制作半導體元器件。

標準號：GB/T 12962-2015

標準名稱：硅單晶

英文名稱：Monocrystalline silicon

標準類型：國家標準

標準性質(zhì)：推薦性

標準狀態(tài)：現(xiàn)行

發(fā)布日期：2015-12-10

實施日期：2017-01-01

中國標準分類號（CCS）：冶金>>半金屬與半導體材料>>H82元素半導體材料

國際標準分類號（ICS）：電氣工程>>29.045半導體材料

替代以下標準：替代GB/T 12962-2005

起草單位：有研新材料股份有限公司、天津市環(huán)歐半導體材料技術(shù)有限公司、浙江中晶科技股份有限公司、浙江省硅材料質(zhì)量檢驗中心、杭州海納半導體有限公司、萬向硅峰電子股份有限公司、浙江金瑞泓科技股份有限公司、上海合晶硅材料有限公司、中國有色金屬工業(yè)標準計量質(zhì)量研究所等

歸口單位：全國半導體設(shè)備和材料標準化技術(shù)委員會(SAC/TC 203)、全

發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.